「无损检测」马路科技计量型工业CT-检测质量解决方案

计量型无损检测技术

 

 

近年来，测量行业的大趋势正从传统检测向数字化检测方向蜕变，成为推动制造业高质量发展的关键技术之一。

 

工业CT检测技术，融合了X射线及先进的图像处理技术，广泛应用于消费电子、半导体芯片，汽车零部件等质量检测中，为制造业从材料分析到生产，再到装配及失效分析全面赋能，助力企业向高质量发展努力转型。

 

 

ZEISS METROTOM | 组成部分

 

在众多的光学检测解决方案中，蔡司的ZEISS METROTOM系列设备以其卓越的性能和广泛的应用领域脱颖而出。

 

蔡司工业CT测量系统构成部分，包括X射线源、探测器、机械扫描系统、电子控制系统、数据处理系统和图像重建软件。

 

这些组成部分相互协作，共同完成了对物体内部结构的高精度测量和图像重建。

 

 

 

电子产品的工业CT检测质量解决方案

 

工业CT在电子产品检测方面，ZEISS METROTOM系列设备以其卓越的性能和广泛的应用领域。

 

该设备不仅具备高精度的测量能力，还能结合复杂的重构算法生成点云数据，完成尺寸测量、CAD数模比对、缺陷分析、反变形修模及逆向工程等多种功能。

 

同时，其孔隙率分析功能还能帮助优化注塑工艺参数，提高产品的质量和生产效率。

 

 

 

连接器产业链的测量挑战

 

在装配及失效分析方面，ZEISS METROTOM与ZEISS INSPECT X-Ray的结合更是相得益彰。

 

ZEISS INSPECT X-Ray以其简便易用、功能强大的特点，为失效分析提供了有力支持。它能够进行无损检测，无需对零部件进行剖切，从而保护产品的完整性，支持在整个测量范围内具备可追溯的计量精度。

 

同时，ZEISS Metrotom的多样产品序列和AMMAR及BHC各类伪影校正功能的加入，进一步提升了图像质量和测量精度，满足客户各种需求。

 

 

随着智能制造的深入发展，蔡司工业CT将继续发挥其关键作用，为制造业的质量提升和性能优化提供有力保障。

 

马路科技也将继续秉承专业、高效的服务理念，为客户提供更加优质的服务，助力制造业实现更高质量、更高效率的发展。